BSD-PM系列比表面及微孔分析儀

BSD-PM系列比表面及微孔分析儀

測(cè)試原理：

在低溫（如：液氮浴，77.3K）條件下，向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（如：N2），通過控制樣品管中的平衡壓力直接測(cè)得吸附分壓，通過氣體狀態(tài)方程(PV=nRT)得到該分壓點(diǎn)的吸附量；通過逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸附等溫線；通過逐漸抽出吸附質(zhì)氣體降低吸附平衡壓力，得到脫附等溫線；相對(duì)動(dòng)態(tài)法，無需載氣（He），無需液氮杯反復(fù)升降；由于待測(cè)樣品是在固定容積的樣品管中，吸附質(zhì)相對(duì)動(dòng)態(tài)色譜法不流動(dòng)，故叫靜態(tài)容量法；

BSD-PM系列比表面及微孔分析儀

測(cè)試?yán)碚摚?/span>

吸附、脫附等溫線測(cè)定            BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法)；

朗格繆爾(Langmuir)比表面         統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面； 

BJH法孔容孔徑分布              MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布； 

D-R法微孔分析                  t-plot法(Boder)微孔分析；

H-K法(Original)微孔分析         MP法(Brunauer) 微孔分析；

DFT孔徑分析;                  真密度測(cè)試、粒度估算報(bào)告；

具有IASTL理論模型            吸附/脫附報(bào)告模型